Trend-Gamma Process 模型下之衰變分析;Degradation Analysis on Trend-Gamma Process

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Title:	Trend-Gamma Process 模型下之衰變分析;Degradation Analysis on Trend-Gamma Process
Authors:	蘇柏維;SU, BO-WEI
Contributors:	數學系統計科學研究所
Date:	2017
Issue Date:	2019-07-17
Publisher:	數學系統計科學研究所
Abstract:	對於高可靠度的產品，壽命往往難以觀察，此時我們常使用衰變分析 (degradation analysis) 來解決失效樣本不足的問題。透過產品品質特徵值之衰變路徑，建構衰變模型來配適衰變路徑，完成壽命之預測。其中當特徵值之增量恆正時，gamma process (GP) 模型為常見之衰變模型。然而，有時候 GP 模型亦無法確切捕捉衰變路徑。因此本文進一步提出 trend-gamma process (TGP) 模型以改善 GP 模型不足之處。透過模擬與實例分析結果，我們發現 TGP 模型能廣義的處理增量恆正之衰變資料。
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